Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Furkejuvvon:
| Váldodahkki: | |
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| Materiálatiipa: | Oahppočájánas Girji |
| Giella: | eaŋgalasgiella |
| Almmustuhtton: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| Fáttát: | |
| Liŋkkat: | Ver documento en línea |
| Fáddágilkorat: |
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!
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Interneahtta
Ver documento en línea| Hildobáiki: |
MLD. 90
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|---|---|---|---|
| Ejemplar 418207-1 |
Disponible
Préstamo en línea
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Čoakkáldat:
Tesis del ITESO en línea
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Fuomášahttimat:
Consultar en línea
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