Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Tesis ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Ver documento en línea |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
אינטרנט
Ver documento en línea| סימן המיקום: |
MLD. 90
|
||
|---|---|---|---|
| Ejemplar 418207-1 |
Disponible
Préstamo en línea
|
Colección:
Tesis del ITESO en línea
|
הערות:
Consultar en línea
|