Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Thesis Boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
|
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | Ver documento en línea |
| Tags: |
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Internet
Ver documento en línea| Plaatsingsnummer: |
MLD. 90
|
||
|---|---|---|---|
| Ejemplar 418207-1 |
Disponible
Préstamo en línea
|
Collectie:
Tesis del ITESO en línea
|
Aantekeningen:
Consultar en línea
|