Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
বিন্যাস: গবেষণাপত্র গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Ver documento en línea
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

অনুরূপ উপাদানগুলি: Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /