Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Formato: Tesis Libro
Idioma:inglés
Publicado: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
Temas:
Acceso en liña:Ver documento en línea
Etiquetas: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

Internet

Ver documento en línea
Detalle de Existencias desde IT2
Número de Clasificación:
MLD. 90
Ejemplar 418207-1
Disponible
Préstamo en línea
Colección:
Tesis del ITESO en línea
Notas:
Consultar en línea