Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
التنسيق: أطروحة كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Ver documento en línea
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

الانترنت

Ver documento en línea
تفاصيل المقتنيات من IT2
رقم الاستدعاء:
MLD. 90
Ejemplar 418207-1
Disponible
Préstamo en línea
المجموعة:
Tesis del ITESO en línea
ملاحظات:
Consultar en línea