Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Gardado en:
| Autor Principal: | |
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| Formato: | Tesis Libro |
| Idioma: | inglés |
| Publicado: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| Temas: | |
| Acceso en liña: | Ver documento en línea |
| Etiquetas: |
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Internet
Ver documento en línea| Número de Clasificación: |
MLD. 90
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| Ejemplar 418207-1 |
Disponible
Préstamo en línea
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Colección:
Tesis del ITESO en línea
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Notas:
Consultar en línea
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