Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
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| التنسيق: | أطروحة كتاب |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | Ver documento en línea |
| الوسوم: |
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الانترنت
Ver documento en línea| رقم الاستدعاء: |
MLD. 90
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|---|---|---|---|
| Ejemplar 418207-1 |
Disponible
Préstamo en línea
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المجموعة:
Tesis del ITESO en línea
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ملاحظات:
Consultar en línea
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