Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

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Opis bibliograficzny
1. autor: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Format: Praca dyplomowa Książka
Język:angielski
Wydane: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
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Szczegóły zapisu IT2
Sygnatura:
MLD. 90
Ejemplar 418207-1
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