Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Guardat en:
| Autor principal: | |
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| Format: | Thesis Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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Internet
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MLD. 90
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Col·lecció:
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Notes:
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