Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Format: Thesis Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
Matèries:
Accés en línia:Ver documento en línea
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

Internet

Ver documento en línea
Detall dels fons de IT2
Signatura:
MLD. 90
Ejemplar 418207-1
Disponible
Préstamo en línea
Col·lecció:
Tesis del ITESO en línea
Notes:
Consultar en línea