Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Formatua: Tesis Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Ver documento en línea
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Internet

Ver documento en línea
Aleari buruzko argibideak IT2
Sailkapena:
MLD. 90
Ejemplar 418207-1
Disponible
Préstamo en línea
Bilduma:
Tesis del ITESO en línea
Oharrak:
Consultar en línea