Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Salvato in:
| Autore principale: | |
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| Natura: | Tesi Libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| Soggetti: | |
| Accesso online: | Ver documento en línea |
| Tags: |
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Accesso online
Ver documento en línea| Collocazione: |
MLD. 90
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| Ejemplar 418207-1 |
Disponible
Préstamo en línea
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Collezione:
Tesis del ITESO en línea
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Note:
Consultar en línea
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