Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

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主要作者: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
格式: Tesis 圖書
語言:英语
出版: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
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持有資料詳情 IT2
索引號:
MLD. 90
Ejemplar 418207-1
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Colección:
Tesis del ITESO en línea
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