Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Tesis Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
|
| Temas: | |
| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
| Etiquetas: |
Sin etiquetas, Sé el primero en etiquetar este registro!
|
| Resumen: | Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores. |
|---|---|
| Descripción física: | 1 tesis electrónica en línea (VIII, 60 p.) 1 recurso en línea |