Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
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| Autor principal: | |
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| Format: | Thesis Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| Sumari: | Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores. |
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| Descripció física: | 1 tesis electrónica en línea (VIII, 60 p.) 1 recurso en línea |