Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

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Detaylı Bibliyografya
Yazar: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Konular:
Etiketler: Etiketle
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Detaylı Erişim Bilgileri IT1
Yer Numarası:
006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Koleksiyon:
Colección General
Notlar:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General