Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Format: Knjiga
Jezik:angleščina
Izdano: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Teme:
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Podrobnosti zaloge IT1
Signatura:
006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
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Colección:
Colección General
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