Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Heijden, Ferdinand van der (autor)
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
נושאים:

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