Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

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Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
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Detaljer om beholdninger fra IT1
Klassifikationsnummer:
006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
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Préstamo 7 días a 90
Colección:
Colección General
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