Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

Dades bibliogràfiques

Autor principal:	Heijden, Ferdinand van der (autor)
Format:	Llibre
Idioma:	anglès
Publicat:	Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Matèries:	Reconocimiento de Patrones Imagen Manipulación de Imagen por Computadora Multimedia Gráficas por Computadora Paquetes (Software) Ingeniería Computacional
Etiquetes:	Afegir etiqueta Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!