Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

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Detaylı Bibliyografya
Yazar: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Konular:
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649 |a XX 
650 |a Reconocimiento de Patrones 
650 |a Imagen 
650 |a Manipulación de Imagen por Computadora 
650 |a Multimedia 
650 |a Gráficas por Computadora 
650 |a Paquetes (Software) 
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