Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /
Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.
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| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | গ্রন্থ |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
Nueva York, EUA :
Wiley,
1994, c1994
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| বিষয়গুলি: | |
| ট্যাগগুলো: |
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