Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Aleari buruzko argibideak IT1
Sailkapena:
006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Bilduma:
Colección General
Oharrak:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General