Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Format: Knjiga
Jezik:engleski
Izdano: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Detalji primjeraka od IT1
Signatura:
006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Zbirka:
Colección General
Bilješke:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General