Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

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Dades bibliogràfiques
Autor principal: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Matèries:
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Detall dels fons de IT1
Signatura:
006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Col·lecció:
Colección General
Notes:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General