Pattern recognition engineering /
Contenido: Introducción; Panorama del campo; Segmentación; Rasgos; Patrones y texturas; Métodos estadísticos de decisión; Decisiones óptimas de Bayes; Más allá de Bayes; Métodos lingüísticos formales; Métodos estructurales e híbridos; Técnicas de aprendizaje.
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros autores: | |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Nueva York, EUA :
Wiley,
1992, c1992
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| Temas: | |
| Etiquetas: |
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| Código Dewey: |
006. 4 NAD
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| Ejemplar 0500037369 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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Colección:
Colección General
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Notas:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General
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