Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

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Bibliographic Details
Main Author: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Format: Book
Language:English
Published: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
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Holdings details from IT1
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006. 4 HEI
Ejemplar 0500037387
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Colección General
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