Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

Detalles Bibliográficos

Autor principal:	Heijden, Ferdinand van der (autor)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Temas:	Reconocimiento de Patrones Imagen Manipulación de Imagen por Computadora Multimedia Gráficas por Computadora Paquetes (Software) Ingeniería Computacional
Etiquetas:	Agrega una etiqueta Sin etiquetas, Sé el primero en etiquetar este registro!