Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
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