Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Формат: Ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Нөхцлүүд:
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!