Image based measurement systems : object recognition and parametrer estimation /

Contenido: Introducción; Formación de imagen; Modelos de imagen; Adquisición de imágenes; Operaciones de imagen; Clasificación de patrones estadísticos y estimación de parámetros; Análisis de imagen.

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Heijden, Ferdinand van der (autor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Nueva York, EUA : Wiley, 1994, c1994
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!