IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /

Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục

Tác giả của công ty:	IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	Tiếng Anh
Được phát hành:	Nueva York, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Những chủ đề:	Circuitos Impresos - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición - > Tema Principal Proceso de Producción Normas Técnicas (Ingeniería Industrial) Normalización y Certificación Control de Calidad Microelectrónica Electrónica
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!