Digital Systems Testing and Testable Design /
Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros autores: | , |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Nueva York, EUA :
IEEE,
1990, c1990
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| Edición: | 2a edición |
| Temas: | |
| Etiquetas: |
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| Código Dewey: |
621. 3815 ABR
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| Ejemplar 0500029093 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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Colección:
Colección General
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Notas:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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