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The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

Guardado en:
Autor principal: Maunder, Colin M. (autor)
Otros autores: Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Temas:
Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición
Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal
Arquitectura de Computadoras
Ingeniería Computacional
Ingeniería Electrónica
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Código Dewey:
621. 392 MAU
Ejemplar 0500147727
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Colección:
Colección General
Notas:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General

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