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IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /

Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...

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Uloženo v:
Korporativní autor: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Nueva York, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Témata:
Circuitos Impresos - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Proceso de Producción
Normas Técnicas (Ingeniería Industrial)
Normalización y Certificación
Control de Calidad
Microelectrónica
Electrónica
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Shrnutí:Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de submódulos de circuitos integrados, y para depurar aplicaciones embebidas.
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