Cover Image
QR Code

IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /

Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...

Full description

Saved in:
Corporate Author: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Format: Book
Language:English
Published: Nueva York, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Subjects:
Circuitos Impresos - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Proceso de Producción
Normas Técnicas (Ingeniería Industrial)
Normalización y Certificación
Control de Calidad
Microelectrónica
Electrónica
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Summary:Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de submódulos de circuitos integrados, y para depurar aplicaciones embebidas.
Physical Description:1 v. (varias paginaciones)

Similar Items