IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /

Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos

Autor corporativo:	IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	Nueva York, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Temas:	Circuitos Impresos - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición - > Tema Principal Proceso de Producción Normas Técnicas (Ingeniería Industrial) Normalización y Certificación Control de Calidad Microelectrónica Electrónica
Etiquetas:	Agrega una etiqueta Sin etiquetas, Sé el primero en etiquetar este registro!