IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /
Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...
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| Autor corporatiu: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Nueva York, EUA :
IEEE Computer Society,
1990, c1990
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| Matèries: | |
| Etiquetes: |
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| 520 | |a Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de submódulos de circuitos integrados, y para depurar aplicaciones embebidas. | ||
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| 650 | |a Circuitos Impresos - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Circuitos Electrónicos - |x Prueba y Medición - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Proceso de Producción | ||
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