IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /

Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Korporacja:	IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Format:	Książka
Język:	angielski
Wydane:	Nueva York, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Hasła przedmiotowe:	Circuitos Impresos - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición - > Tema Principal Proceso de Producción Normas Técnicas (Ingeniería Industrial) Normalización y Certificación Control de Calidad Microelectrónica Electrónica
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!