IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture (IEEE Computer Society)
Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de submódulos de circuitos integrados, y para depurar aplicaciones embebidas.