Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Goor, A.J. van de (autor)
Формат: Книга
Мова:Англійська
Опубліковано: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Детальна інфо про примірники із IT1
Шифр:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Колекція:
Colección General
Примітки:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General