Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

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Opis bibliograficzny
1. autor:	Goor, A.J. van de (autor)
Format:	Książka
Język:	angielski
Wydane:	Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Hasła przedmiotowe:	RAM (Random Access Memory) ROM (Read Only Memory) Memorias (Ingeniería Computacional) - > Prueba y Medición - > Tema Principal Semiconductores - > Prueba y Medición Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
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