Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Goor, A.J. van de (autor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Informace o exemplářích z: IT1
Signatura:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Sbírka:
Colección General
Poznámky:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General