Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /
保存先:
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
Chichester, Inglaterra :
Wiley,
1996, c1991
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| 主題: | |
| タグ: |
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| 請求記号: |
621. 3973 GOO
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| Ejemplar 0500147724 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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コレクション:
Colección General
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注記:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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