Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Shranjeno v:

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:	Goor, A.J. van de (autor)
Format:	Knjiga
Jezik:	angleščina
Izdano:	Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Teme:	RAM (Random Access Memory) ROM (Read Only Memory) Memorias (Ingeniería Computacional) - > Prueba y Medición - > Tema Principal Semiconductores - > Prueba y Medición Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
Oznake:	Označite Brez oznak, prvi označite!

Komentirajte kot prvi!

Podobne knjige/članki