Cita APA (7a ed.)
Goor, A. v. d. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. Wiley.
Cita estilo Chicago (17a ed.)
Goor, A.J. van de. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. Chichester, Inglaterra: Wiley.
Cita MLA (9a ed.)
Goor, A.J. van de. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. Wiley.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.