Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Goor, A.J. van de (autor)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Aleari buruzko argibideak IT1
Sailkapena:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Bilduma:
Colección General
Oharrak:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General