Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Goor, A.J. van de (autor)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Λεπτομέρειες τεκμηρίων από IT1
Ταξινομικός Αριθμός:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Συλλογή:
Colección General
Σημειώσεις:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General