Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphov: Goor, A.J. van de (autor)
Materialtyp: Bok
Språk:engelska
Utgiven: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Ämnen:
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
Beståndsuppgifter i IT1
Hyllsignum:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Samling:
Colección General
Anmärkningar:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General