Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Chichester, Inglaterra :
Wiley,
1996, c1991
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| Temas: | |
| Etiquetas: |
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| Código Dewey: |
621. 3973 GOO
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| Ejemplar 0500147724 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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Colección:
Colección General
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Notas:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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