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Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Autor principal: Goor, A.J. van de (autor)
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Matèries:
RAM (Random Access Memory)
ROM (Read Only Memory)
Memorias (Ingeniería Computacional) - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Semiconductores - > Prueba y Medición
Arquitectura de Computadoras
Ingeniería Computacional
Ingeniería Electrónica
Signatura:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Col·lecció:
Colección General
Notes:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General

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