Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Goor, A.J. van de (autor)
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Assuntos:
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Detalhes do Exemplar IT1
Área/Cota:
621. 3973 GOO
Ejemplar 0500147724
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Coleção:
Colección General
Observações:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General