Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Goor, A.J. van de (autor)
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Chichester, Inglaterra : Wiley, 1996, c1991
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Opis
Opis fizyczny:XXIII, 512 p.
ISBN:0-471-92586-1