Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

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Бібліографічні деталі
Автор:	Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Формат:	Дисертація Книга
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Guadalajara, México : edición de autor, 2019
Предмети:	Transistores MOSFET Circuitos de Transistores - > Prueba y Medición Circuitos Integrados Digitales Circuitos Electrónicos - > Simulación por Computadora Interfaz (Electrónica) - > Prueba y Medición - > Tema Principal Sistemas Computacionales Desarrollo de Sistemas Electrónica Digital Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
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