Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Thesis Boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | Ver documento en línea |
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