Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Tesis ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Ver documento en línea |
| תגים: |
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