Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Guardado en:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Tesis Bog |
| Sprog: | engelsk |
| Udgivet: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
|
| Fag: | |
| Online adgang: | Ver documento en línea |
| Tags: |
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Vær først til at give en kommentarø!