Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Диссертация |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Ver documento en línea |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Ваш комментарий будет первым!