Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Формат: Диссертация
Язык:английский
Опубликовано: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
Предметы:
Online-ссылка:Ver documento en línea
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!