The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Автор:	Maunder, Colin M. (autor)
Інші автори:	Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Формат:	Книга
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Предмети:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Будьте першим, хто залишить коментар!

Схожі ресурси