The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:	Maunder, Colin M. (autor)
Beste egile batzuk:	Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Formatua:	Liburua
Hizkuntza:	ingelesa
Argitaratua:	Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Gaiak:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Izan zaitez lehena ohar bat uzten!

Antzeko izenburuak